高低溫老化箱的主要測(cè)試目的分析
更新時(shí)間:2019-07-10 點(diǎn)擊次數(shù):1263次
高低溫老化箱的主要測(cè)試目的分析
高低溫老化箱的主要結(jié)構(gòu)特點(diǎn):
1.溫度控制準(zhǔn)確,精度高。由于采用了*的風(fēng)道系統(tǒng)設(shè)計(jì)及電控系統(tǒng),能保持整個(gè)房間溫度高度均勻性,大大高于同類產(chǎn)品。
2.房間設(shè)定溫度范圍廣,連續(xù)可調(diào)。在常溫+5℃-60℃(常溫+5℃-80℃)范圍內(nèi)可任意設(shè)定,若特別要求可設(shè)計(jì)更高溫度產(chǎn)品。
3.系統(tǒng)保護(hù)功能齊全,能確保安全長(zhǎng)期穩(wěn)定*運(yùn)行。
4.煙霧報(bào)警功能:室內(nèi)裝有煙感報(bào)警器,預(yù)防在老化產(chǎn)品的過(guò)程中某種原因使產(chǎn)品燃燒而報(bào)警,在報(bào)警時(shí)自動(dòng)關(guān)閉老化房電源。
5.根據(jù)客戶的要求設(shè)計(jì)樣品架。如需負(fù)載,則做相對(duì)應(yīng)的負(fù)載框架配套生產(chǎn),一般測(cè)試架的設(shè)計(jì)要求結(jié)構(gòu)穩(wěn)固合理,操作方便,外形美觀、滿足功能等特點(diǎn)。
如今的電子產(chǎn)品在生產(chǎn)出廠過(guò)程中,有個(gè)步驟是*的,那就是高低溫老化測(cè)試。這就會(huì)用到高低溫老化箱,電子產(chǎn)品為什么要進(jìn)行高低溫老化測(cè)試呢?
隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子產(chǎn)品的集成化程度越來(lái)越高,結(jié)構(gòu)越來(lái)越細(xì)微,工序越來(lái)越多,制造工藝越來(lái)越復(fù)雜,這樣在制造過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題概括有兩類:
一類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo),生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求;
另一類是潛在的缺陷,這類缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn),而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露,如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。
一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活(暴露)。顯然,對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的,所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓,如高低溫老化箱進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn),來(lái)加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力,高低溫老化箱模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境,消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì),使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn),盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段,進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。
通過(guò)高低溫老化箱的測(cè)試可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過(guò)程中存在的隱患提前暴露,老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量,篩選剔除失效或變值的元器件,盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用,從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。